在线讲座​无缝触及-高速丈量环境中仪器与被测件的正确衔接（6月28日）

  从开发到最后的验证，每一个阶段都会面对回溯的要求，然后能快速发现和处理咱们在产品规划中遇到的问题，但在这样的一个过程中，由于这样或那样的原因，往往会疏忽的问题，然后没办法完成问题的回溯。如安在研制的每个阶段设置测验点，是研制周期的一项重要任务。

  一起，在产品的开发周期中会面对不同的场景，包含芯片的测验验证，封装完之后的器材验证，传输通道的验证，接口一致性验证等等，在这些不同的场景中，需求不同的衔接办法，怎么保证衔接的正确性以及去除影响衔接的要素，本次论坛讲座将从细节动身，根据常见的测验验证场景，共享测验外表与被测件无缝触及的经历。

  信息，旨在协助您提高绩效以及将各种可能性转化为实际。泰克规划和制作能够协助您测验和丈量各种处理方案，然后打破复杂性的层层壁垒，加速您的大局立异脚步。咱们携手共进，一定能协助各级工程师更便利、更快速、更精确地发明和完成技术进步。